概述

en-2005c测试系统通过pc机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

测试系统特点

iv曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热，保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到excel，曲线程序和数据自动存入excel，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）

系统规格及技术指标                                                          

主极电压：     1mv-2000v

电压分辨率：   1mv

主极电流：     0.1na-50a

扩展电流：     100a

电流分辨率：   0.1na

测试精度：     0.2%+2lsb

测试速度：     0.5ms/参数

工作温度：     25℃--40℃

工作湿度：     45%--80%

贮存湿度：     10%--90%

工作电压：     200v--240v

电源频率：     47hz--63hz

通信接口：     rs232 usb

系统功耗：     <150w

设备尺寸：     450mm×570mm×280mm

质    量：     35kg

测试范围

二极管diode，晶体管（npn型/pnp型），j型场效应管j-fet，mos场效应管  mos-fet双向可控硅triac，可控硅scr，绝缘栅双极大功率晶体管igbt，硅触发可控硅sts

达林顿阵列darlinton，光电耦合opto-coupler，继电器relay，稳压、齐纳二极管zener三端稳压器regulator，光电开关opto-switch，光电逻辑opto-logic，金属氧化物压变电阻mov，固态过压保护器ssovp，压变电阻varistor，双向触发二极管diac